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1550nm高分辨率InGaAs光束質量分析儀

1550nm高分辨率InGaAs光束質量分析儀

簡要描述:
BND-S0505GK-Basic 是一款 InGaAs 光束分析儀,采用全局快門,可為可見光、短波紅外(SWIR)和增強型短波紅外(eSWIR)光源提供高質量的光束分析。像素間距為5 µm,波長范圍寬達1100-1750 nm (標配)和 340-1100 nm (選配),可提供優秀光束分析能力。1550nm高分辨率InGaAs光束質量分析儀BND-S0505GK-Basic

更新時間:2025-07-22

訪問量:207

廠商性質:生產廠家

生產地址:中國

BND-S0505GK-Basic 是一款 InGaAs 光束分析儀,采用全局快門,可為可見光、短波紅外(SWIR)和增強型短波紅外(eSWIR)光源提供高質量的光束分析。像素間距為5 µm,波長范圍寬達1100-1750 nm (標配)和 340-1100 nm (選配),可提供優秀光束分析能力。這款分析儀具有高靈敏度,并配備全局快門,可用于脈沖光束分析。

主要特點

針對 1550 nm 進行了優化

5 µm像素

全局快門

分辨率1280*1024

規格參數

產品名稱BND-S0505GK-Basic
光譜范圍1100-1750 nm
光束尺寸50μm - 5.1mm
通信接口USB 3.0
傳感器類型InGaAs
兼容的光源CW, Pulsed
有效面積6.4*5.1 mm
分辨率1280*1024
有效像素間距5 µm
全分辨率幀率2-10fps

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1550nm高分辨率InGaAs光束質量分析儀BND-S0505GK-Basic

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